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Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) com EDS

O princípio do Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é baseado na emissão termoiônica de um feixe de elétrons a partir de um filamento metálico.

O feixe interage com a amostra cerâmica e os elétrons perdem energia por dispersão e absorção formando um volume de interação, revelando a superfície e as fases de uma amostra cerâmica, e com o acessório Detector de Energia Dispersiva (EDS) é possível ter a composição química elementar qualitativa da amostra.

Normas avaliadas pelo CCDM: metodologia interna e outros procedimentos sob consulta.

Informações adicionais: Informações Adicionais: O MEV produz imagens com alta resolução da superfície de uma amostra, com aparência tridimensional e ampliação de até 300.000 vezes, sendo útil para avaliar a estrutura superficial.

Pode ser uma ferramenta importante para por exemplo analisar falhas em materiais cerâmicos.

 

 

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